磨粉激光粒度(dù)儀供應廠家

磨粉激光粒度儀供應(yīng)廠家

磨粉按照研磨粉顆粒的尺寸大小來區分的(de)，一般被分爲磨粒、磨粉(fěn)、微粉和精粉四種。粉(fěn)體樣品中不同粒徑顆粒占顆粒總量的百分數。有區間分布和累計分布兩種形式。區間分布又稱爲微分分布(bù)或(huò)頻率分布，它表示一系列粒徑區間中顆粒的百分(fèn)含量。累計分布也叫積分分布，它表示小于或(huò)大于某粒徑顆粒的百分含量。磨(mó)粉激光粒度儀是一款(kuǎn)用于檢測研磨粉顆粒粒徑及粒徑分布的精密儀器(qì)，該儀器具有測試(shì)速度快、測(cè)試範圍寬、重複性(xìng)和真實性好、操作簡便等優點。

磨粉激光粒度儀供應廠(chǎng)家

磨粉激光粒度儀适用範圍：

     LAP-DW2000激光粒度儀(yí)廣泛應用于水泥(ní)、陶瓷、藥品、乳(rǔ)液、塗(tú)料、染料、顔料、填(tián)料(liào)、化工産(chǎn)品、催化劑(jì)、鑽井泥漿、磨料、潤滑劑、泥砂、粉塵、細(xì)胞、細菌、食品、添加(jiā)劑(jì)、農藥、石墨、感光(guāng)材料、燃料、墨汁、金(jīn)屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土(tǔ)、水煤漿、鋁(lǚ)銀漿及其(qí)他粉狀物料。

LAP-DW2000幹濕一體激光粒徑檢測儀主要性能特點：

*的光路設計(jì)：LAP-DW2000激光粒度儀采用(yòng)會聚(jù)光傅立葉變換測試技(jì)術，保證在較(jiào)短的焦距獲得大量程，有效提高儀(yí)器的分辨能力；*的高(gāo)密度探測單元(yuán)，讓LAP-DW2000擁(yōng)有了(le)*的小顆粒測試能力，高密度探測單元的使用讓LAP-DW2000具(jù)有*的全量程無縫測試能力(lì)。

幹、濕一(yī)鍵切換：幹濕切換将由儀器自動完(wán)成，全部過程10S内完成。

主探測器Z向自動移動：幹濕切換後因(yīn)光學玻璃的介入會導(dǎo)緻會聚光焦距變化，LAP-DW2000激光粒度儀會(huì)根據幹、濕法的不同自動調整主探測器，使主探測(cè)器始終在焦平面上（實現光路三維自動校對(duì)）。

防塵、防震設計：儀器整體(tǐ)進行了密封設計，大幅提高了内部(bù)元器件使用壽命。*的懸浮式結構能(néng)有效避免外界震動對儀器的影響，使測試結果更穩定可靠。

強防腐設計（選配）：根據客戶實際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油（含一切溶(róng)劑油(yóu)）、耐有機溶劑。

進口氦-氖激光器：LAP-DW2000激光粒度儀采用了高穩定、長壽命(mìng)的進口氦-氖(nǎi)激光(guāng)器(qì)，優良的單色性及穩定性讓LAP-DW2000擁有了*的測試重複性（标配爲(wèi)國産）。

光路自(zì)動校對：自動(dòng)對焦系統，儀器可自動校對光路。

*微(wēi)量循環系統(tǒng)：整個分散循(xún)環系統進行了優化(huà)設計，分散介質(zhì)大于(yú)150毫升即可(kě)循環測試，真正達到了微量循環(huán)測試；優化的設計保證排水後無廢液殘留，保證(zhèng)了下一次測試結果(guǒ)的準确(què)性。

超寬量程(chéng)：LAP-DW2000激光粒度儀量程達到了(le)0.1μm～2000μm。

免排(pái)氣泡設計：全新的設計使(shǐ)整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡影(yǐng)響。

樣品無(wú)殘留(liú)設計：儀器管道及排水結構進行了優化(huà)設計，儀器管道、循環泵内無積液殘(cán)留，避免對下一次(cì)測(cè)試數據的影響(xiǎng)；幹法測試同樣進行了無殘留設計。

幹法計算機遠程控制喂(wèi)料：LAP-DW2000幹(gàn)法測試時(shí)測試人員可通過電(diàn)腦遠端控制喂料速度(dù)，大大減少了測試人員的勞動強度。

樣品窗(chuāng)快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣(yàng)品窗更換更方便快捷。

幹濕一體激(jī)光粒徑檢測儀(yí)*的濕(shī)法循(xún)環分散系統，保證顆粒保證測試過程中無顆粒沉積現象，測試完畢後無廢液積存設(shè)計，保證了下一次測試(shì)精度，使(shǐ)測試結果更真(zhēn)實可靠；幹法分散采用力了直(zhí)線噴(pēn)射分散設計，樣品經過高壓氣(qì)體分(fèn)散後垂直向後方飛行，避免了待測小顆粒的二次團(tuán)簇，同時采取了管(guǎn)道無(wú)殘留設計，保證了測試(shì)不同樣品的準确(què)性。*的光路自動校對系統、幹濕一鍵切換(huàn)系統、幹法電腦遠端控制喂料系統等精心設計彰顯出(chū)LAP-DW2000*優勢。