更新時間：2023-10-18
LAP-S2000噴霧全自動激光粒度分析(xī)儀(yí)
我公司視“打造國産穩定的激光粒度儀器"爲己任，以科技創品牌、質量闖市場、信譽赢天(tiān)下爲方針，全力打造超(chāo)穩定、高性價比的國産激光粒度儀器。
LAP-S2000噴霧全自動(dòng)激光粒度分析儀(yí)
我(wǒ)公司視“打造國産穩定的激光粒(lì)度儀器"爲己任，以科技創品牌(pái)、質量闖市場、信譽(yù)赢天下爲方針，全力打造超穩定、高性價比的國産激(jī)光粒度儀器。
LAP-S2000采用分體式設計，适用範圍更(gèng)加寬泛。性(xìng)能更加穩定、量程更大、适(shì)應各種複雜(zá)的測試(shì)環境，同時LAP-S2000進行了防塵處理。
LAP-S2000噴霧激光粒(lì)度分析儀主要性能特點：
LAP-S2000采用了分體式結構，可(kě)測試遠距離樣品， LAP-S2000采(cǎi)用了大平台，即使一(yī)體式使用也能滿足0.1米到10米的距離(lí)上(shàng)正常測試。
*的光路設計： LAP-S2000采用了夫(fū)琅禾(hé)費衍射原理和典型的平(píng)行光路設計，配備了大功率(lǜ)的半導體(tǐ)激光器；*的高密度探測單元，讓LAP-S2000擁有了*的小(xiǎo)顆粒測試能力，LAP-S2000在(zài)1μm～2000μm内(nèi)無縫測試(shì)。同(tóng)時(shí)LAP-S2000又加入了光路自動調整裝置，方便操作的同(tóng)時又延長了儀器(qì)的适用壽命。
大功率半導體激光(guāng)器：LAP-S2000采用了大功率的半導(dǎo)體激(jī)光器，增強了儀器的分辨能力，使(shǐ)小顆粒也無處藏身。
光路自動校對：LAP-S2000在噴霧粒度儀(yí)中(zhōng)加入了自動對中功能，LAP-S2000加入的光路自動調整系統，保證了儀(yí)器測量的穩定(dìng)性、準确性。同時大量減少操作者的(de)工作強度。
進口(kǒu)的鏡頭：LAP-S2000采(cǎi)用了日本佳能作爲主鏡頭，畸變小成像(xiàng)高，接收端(duān)采用了直徑150毫米大口徑(jìng)長焦距鏡頭，顆粒探(tàn)測更(gèng)加準确。
超(chāo)寬量程：LAP-S2000量程達到了1μm～2000μm。
輔光定位：LAP-S2000加入了輔光定位功(gōng)能，定位時發射端兩束激光同時發出，接收端(duān)雙點吻合後接收端(duān)即可啓動光路自動調整系統，大大簡化了調整難(nán)度。
強大的分析軟件：強大的分析軟件可以随(suí)時記錄所有激光束的(de)内所有霧滴的粒度分布。在激光束内(nèi)移動噴霧測試結果(guǒ)可以被(bèi)連續記錄和統計(jì)分析。
主要技術(shù)參數：
規格型号(hào) | LAP-S2000 | |
執(zhí)行标準(zhǔn) | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
測試範圍(wéi) | 1μm-2000μm | |
探測器通道數(shù) | 86 | |
準确性誤差 | <1%（國家标(biāo)準樣品D50值） | |
重複性誤差 | <1%（國(guó)家标準樣品D50值） | |
進樣方式 | 開放式 | |
光路對中方式 | 自動對中，儀器(qì)自動調整光(guāng)路，電(diàn)腦軟件一鍵自動完成 | |
操作模(mó)式 | 軟件操作、自動測試 | |
儀器結(jié)構 | 分體式或(huò)導(dǎo)軌式可選 | |
分體式導(dǎo)軌（選配） | 分體式儀器，測(cè)試區域在(zài)6米以内可以選配(pèi)導軌，光(guāng)路更加穩定 | |
激光器參數 | LD泵浦激光器 λ= 532nm, 功率1-40mw可調 | |
關鍵參(cān)數 | 測量(liàng)區 | 分(fèn)體式：儀器(qì)0.1到10米範圍可正常測試 |
導軌式：儀器(qì)0.1到6米範圍(wéi)可正(zhèng)常測試 | ||
鏡頭 | 進口佳(jiā)能高性能鏡頭(tóu) | |
鏡頭保護(hù) | 氣幕(mù)氣流式雙重保護 | |
進樣方式 | 噴射（包含霧滴和固體粉末） | |
操(cāo)作模式 | 電腦操作(zuò) | |
尺寸 | 發射端尺寸：950*320*670 接收端尺寸(cùn)：250*360*520 | |
測試(shì)速度 | <1min/次 | |
重量 | 25Kg | |
軟件(jiàn)功能 | |
分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對數(shù)正态分布(bù)、按目分級統計模式等，滿(mǎn)足不同行業對被測樣品粒度統計(jì)方式的不同要求 |
統計方式 | 體積分布和數量分布，以滿足不同行業對于粒度分布的不同統計方式 |
統計比較 | 可針對多(duō)條測試結果進(jìn)行統計比較分析，可明顯對(duì)比不同批次樣品、加工前後樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業原料質量控制具有(yǒu)很強的實際意義 |
自行DIY | 用戶自(zì)定義(yì)要顯(xiǎn)示的數(shù)據，根據粒徑求百(bǎi)分比、根據百分比求粒徑或根據 |
顯示模闆 | 粒徑區間求百分(fèn)比，以滿足不同行(háng)業對粒度測試的(de)表征(zhēng)方式。徑距、一緻性、區間累(lèi)積等等 |
測試報告 | 測試報告可(kě)導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文(wén)本（Text）等多種形式的文(wén)檔，滿足(zú)在任何場合下查看測(cè)試報告以及科研文章(zhāng)中引(yǐn)用測試結果 |
多語言支持 | 中英文語言界面支持，還可根據用戶要求嵌入其他語言界面。 |
測試(shì)報告：
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