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幹(gàn)濕一體智(zhì)能全自動激光粒度分析儀(yí)

更新時間:2023-10-18

簡要描述:

LAP-DW2000幹濕一(yī)體智能全自動激光粒度分析儀
LAP-DW2000是我公司傾力研發的新産品,自(zì)上市以來(lái)赢得了廣大客戶的(de)*。LAP-DW2000采用*的Mie式散射原理和彙聚光(guāng)傅立葉變(biàn)換光路。高密(mì)度探頭及全量程無縫銜接測試方法,保證了測試結果的(de)準确性和(hé)重複性(xìng)

LAP-DW2000幹濕一體智(zhì)能全自動激光粒度分析儀

LAP-DW2000是我公司傾力研發(fā)的(de)新(xīn)産品,自(zì)上市以來赢得了廣大客戶的(de)*。LAP-DW2000采用*的(de)Mie式(shì)散射原理和彙聚光傅立葉(yè)變換光(guāng)路。高(gāo)密度(dù)探頭及全量程無縫銜接測試方法,保證了測試結果的準确性和重複性。*的濕法循環分散系統,保證顆粒(lì)保證測試過程(chéng)中無顆粒沉積現象,測試排水後無廢(fèi)液積存現象,保證(zhèng)了第二次測試精(jīng)度,使測試結果更真實(shí)可(kě)靠;幹法分(fèn)散采取了直線噴射分散方法,樣品經過高壓氣體分散後垂直向後(hòu)飛行,避免了待測顆粒二次團(tuán)簇,同時采(cǎi)取了管道無殘留設計,保證了測試不同(tóng)樣品的準确性。*的光(guāng)路自動校對系統(tǒng)、幹濕一鍵切換系統、幹法電腦遠(yuǎn)端控制(zhì)喂(wèi)料系統等精心設計(jì)彰顯出LAP-DW2000*優勢。

幹濕(shī)法測試過程智能控制圖:

智能型濕(shī)法激光粒度分析儀控制系統原理(lǐ)圖

智能(néng)型幹粉激光粒度分(fèn)析儀控制系統(tǒng)原理圖

LAP-DW2000激光粒度分析儀主要性能特點

★*的光路設計:LAP-DW2000采用會聚光傅(fù)立葉(yè)變換測試技術保證在(zài)短的焦(jiāo)距獲得大量程,有效提高(gāo)儀器的分(fèn)辨能力;*的高密(mì)度(dù)探測單元,讓DW2000擁有了*的小(xiǎo)顆粒(lì)測試能力,高密度探測單元使用LAP-DW2000具(jù)有*的全量程(chéng)無縫測(cè)試能力

雙光路多鏡頭技術LAP-DW2000高配版采用(yòng)了雙光路多鏡頭技術,此技術已達到*水平,主光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器,輔光采用高穩(wěn)定、長壽命的進口光纖半導體激光器。

★幹、濕一鍵切換:幹濕切換将由儀器自動完成,全部過程10s内完成。

★主探測器Z向自動移動:幹濕切換後因光學玻璃的介入會導(dǎo)緻會聚光焦距變(biàn)化,LAP-DW2000會根據(jù)幹、濕法的不同自動調整主探測器,使主探測器始終在焦平面上。

★大口徑鏡頭:大口(kǒu)徑傅裏葉變換(huàn)鏡頭,更有效實現光信号傅裏葉變換,更準确、更有效。

★防幹燒超聲:DW2000實現了(le)樣(yàng)品(pǐn)池無水保護(hù),避免損壞超聲;同時超聲功率在0到(dào)50瓦範圍内可調。

★防塵、防震(zhèn)設計:儀器整體進行(háng)了密封設計,大幅提高了内部元器件使用壽(shòu)命。*的懸浮式結構能有效避免外界(jiè)震動對儀器的幹擾,使結果測試更穩定可靠。

★強防腐設計(jì)(選配):根據客(kè)戶實際需求可以配備耐酸、耐(nài)堿、耐油(含一切溶劑油)、耐有機溶劑(像丙酮、苯酚、正己烷等一(yī)切有機溶(róng)劑)。

★進口光纖半導體激光器:LAP-DW2000采(cǎi)用(yòng)了高穩定、長壽命的進口大功率光(guāng)纖輸出半導體激光器(qì),優良的單色性及穩(wěn)定性讓LAP-DW2000擁有了*的測試(shì)重複性。

★光路XY向自(zì)動校對:因樣品窗更換引起(qǐ)的光路微變,儀器可以自行對光(guāng)路進(jìn)行調節。

★*微量循環系統:整個分散循(xún)環系統進行了優化(huà)設計,分散介質(zhì)大于150毫升即可(kě)循環測試,真正達到了微(wēi)量循環測(cè)試;所有接頭采用了速(sù)插快擰設計(jì),短時間内(nèi)即可更換全部管道;優化(huà)的設計保證排水(shuǐ)後無廢夜殘(cán)留,保(bǎo)證了下一次測(cè)試結果的準确(què)性。

★超寬量(liàng)程(chéng):LAP-DW2000量程幹法達到了0.1μm2000μm、濕法0.01μm2000μm

★免排氣泡設計:全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進(jìn)入測試樣(yàng)品窗,避免了氣(qì)泡幹擾。

★樣品無殘留設計:儀(yí)器管道及排水結(jié)構進行了(le)優化設計,儀器管道、循環泵内無積(jī)液殘(cán)留,避免對下一次測(cè)試數據的影響;幹法測試(shì)同樣(yàng)進行(háng)了無(wú)殘留設計(jì)。

★幹法(fǎ)計算機遠程控(kòng)制喂料:LAP-DW2000幹法測試(shì)時(shí)測試人員可通過電腦遠端控制喂料速(sù)度,大大減少了測試(shì)人員的勞動強度。

★樣品窗快換裝置:全新設計的樣品窗快換裝置,使樣(yàng)品窗更換更方便快捷。

軟件:符合藥典GMP規定,具有電(diàn)子簽名、權限設置、數據追(zhuī)蹤、數據不可(kě)更改等功能(néng)。

對于(yú)制藥行(háng)業客戶,可以提(tí)供3Q認證。

測試界面

光路自動對中功能圖

主要技(jì)術參數(shù):

規格型号

LAP-DW2000

執行标準

ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008

測試範圍

濕法0.01μm -2000μm

幹法0.1μm -2000μm

探測(cè)器通道數

濕法121

幹法109

準确性誤差(chà)

幹法:<1%,濕法:<1%(國(guó)家标準樣品D50值)

重複性誤差

  幹法:<1%,濕法(fǎ):<0.5%(國家标準樣品(pǐn)D50值)

免排氣泡

具備免排氣泡設計,無氣泡幹擾數據更準确

誤操作保護

儀器具備誤操(cāo)作自我保護功能,儀器對(duì)誤操作不響應

激光器參數

雙光束,進口光纖輸出大功(gōng)率半(bàn)導體激光器 λ= 650nm,  p>10mW

鏡頭

進口佳能鏡頭

智能操作模式

幹、濕法測試均實現軟件一鍵式全自動操作

幹濕法切換

軟件一鍵式自動切換,無(wú)需手動操作

遮(zhē)光度探測

儀器具備*的遮光度實時探測功能,保證樣品加入量更準确

光路對中

光路(lù)自動對中

内置分散方法

超聲(shēng)

頻率:f=40KHz,功率:p=80W,時間:随意可調;具備超聲防幹燒

攪拌

循環攪拌一體化設計,轉速:100-33950rpm轉速可調

循環

循環額定流量:0-10L/min可調  額定功率:25W

樣品池(chí)

自行設計沸騰式(shì)樣(yàng)品池,分散效果更好(hǎo),容量:190-600mL均(jun1)可正常測試

微量進(jìn)樣

儀器可選配微量(liàng)全自(zì)動測試裝置,10毫升即可循環測試(選配)

幹法分散

分散方(fāng)式

高(gāo)壓空氣分散(sàn)

喂料方式

機(jī)械無級(jí)調速振動喂料,軟件(jiàn)控(kòng)制

無油靜(jìng)音空壓(yā)機

具有粉塵(chén)過濾功能,保證測試準确性

冷(lěng)幹機

冷凍式幹燥機可過濾空(kōng)氣中的水(shuǐ)分,保證分散效果

測試速度

<1min/次(不含樣品分散時間)

    

 

軟件(jiàn)功能

測試報告(gào)

測試(shì)報告可導出Word、Excel、圖片(Bmp)和(hé)文本(Text)等多種形式的文檔(dàng),滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果

自行DIY

用(yòng)戶自定義要顯(xiǎn)示的數據,根(gēn)據粒徑(jìng)求百分比、根據百分比求粒徑或根據

統(tǒng)計方式

體積分布和(hé)數量分布,以滿足不同行業對于粒(lì)度分布的不同統計方(fāng)式

統計比較

可針(zhēn)對多條測試結果進行統計比(bǐ)較分析,可明顯對比不同(tóng)批次樣品、加工(gōng)前後樣品以及(jí)不同時間測試(shì)結果的(de)差異,對工業原料質量控制具有很(hěn)強的實際(jì)意義

分析模式

包括自由分布、R-R分布和對數正态分布、按目分級統計模式等,滿足不同行業對被測樣品(pǐn)粒度統計(jì)方式的不同要(yào)求

顯示模闆

粒徑區間求(qiú)百分比(bǐ),以滿足不同行業對(duì)粒度測試的表征(zhēng)方式。徑距、一緻性、區間累積等等

智能操作模式(shì)

真正全自動無人幹預操作,無人(rén)爲因素幹擾,您(nín)隻需按提示加(jiā)入待測樣品即可,測(cè)試結果的重複性更好。

多語言支持

中英文語言界(jiè)面(miàn)支持,還(hái)可根據用戶要求嵌入其他語言界面。

測(cè)試報告:

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