産品中心您現在的位置:首頁 > 産(chǎn)品展示 > 環境試(shì)驗類儀器 > 冷熱沖擊試驗箱 > ST-50HAL冷熱沖擊試驗箱(兩箱式)

冷熱沖擊試驗箱(xiāng)(兩箱式)

更新(xīn)時間:2023-10-19

簡(jiǎn)要描(miáo)述:

冷熱沖擊試(shì)驗箱(兩箱(xiāng)式)廣泛用(yòng)于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學材料(liào)、塑料等行業,國防工業、航(háng)天、兵工業、BGA、PCB基扳(bān)、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫(wēn)的反複抵拉力及産品(pǐn)于熱脹冷縮(suō)産出的(de)化學變化或物理傷害

一、産品概(gài)況

本(běn)系列冷熱沖擊試(shì)驗箱(兩箱式(shì))主要用于測試材料對高溫或(huò)極低溫的抵抗力,這種(zhǒng)情況類似于不

連(lián)續地處于高溫或低(dī)溫中的情形,冷(lěng)熱沖擊試驗能使(shǐ)各種物品在最短的時間内完成測試。熱震

中産生的變化(huà)或物理傷害是熱脹冷縮改變(biàn)或其它物理性值的改變而引起的,采用PID系統,各

類産品才能獲得信賴。熱震的效(xiào)果包括成品裂開(kāi)或破層(céng)及位移等所引起的電化學變化,

PID系統的全數字元自動控制,将使您(nín)操作簡易。

冷熱沖擊試(shì)驗箱(兩箱式)用途:

冷熱沖擊試驗(yàn)機廣泛用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組(zǔ)件、汽車配件、金屬(shǔ)、化(huà)學材.

料、塑料等(děng)行業,國(guó)防工業、航天、兵工業、BGA、 PCB 基扳、電(diàn)子芯片IC、半導體陶磁及高分子材(cái)

料之物(wù)理牲變化,測試其材料對高、低(dī)溫的反複抵拉力及産品(pǐn)于熱脹冷縮産出的(de)化學變化或物理傷害,

可(kě)确(què)認(rèn)産(chǎn)品(pǐn)的質量,從精密的IC到(dào)重機(jī)械的組件,可作爲(wèi)其産品改進的依(yī)據或參考(kǎo)。

QQ截圖20230706151439.jpg


留言框

  • 産品:

  • 您(nín)的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱(xiāng):

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼(mǎ):

    請輸入計算(suàn)結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
廈門易仕特儀器有限公司

廈門易仕特儀器有限公(gōng)司

工廠地址(zhǐ):福建省廈門市同安區西柯鎮美人山中路288号廠房

©2019 版權所有:廈(shà)門易仕特儀器有限公(gōng)司(sī)  備案号:京ICP證000000号  總(zǒng)訪問量:322325  站點地圖  技術支持:化工儀器網  管理登陸