大量程(chéng)幹法激光粒度分析儀

LAP-D2000幹法激光粒度儀

LAP-D2000大量程(chéng)幹法激光粒度分析(xī)儀主要性能特(tè)點：

*的(de)光路設計:

　　LAP-D2000采用會聚光傅(fù)立葉變換測試技術保(bǎo)證在較短的焦距獲得較大(dà)量程，有效提高儀器的分辨能力(lì)；*的小探頭排(pái)布，讓D2000擁有了*的小顆粒測試(shì)能力。*的自動對中(zhōng)系統及電腦操(cāo)作系統彰顯出LAP-D2000人性化設計。

高穩定光路優化：

　　*的設計讓(ràng)LAP-D2000擁有(yǒu)了*的(de)高穩定光路，它采用了高(gāo)穩定、長壽命(mìng)的進口大功率光纖輸出激光器，優良的單色性讓LAP-D2000有了*的穩定性；主要光(guāng)路采取了全封(fēng)閉設計，保證(zhèng)了儀器在複雜環(huán)境(jìng)長時間測試；高密度旋轉式探頭分布保證(zhèng)了LAP-D2000*的全量程無縫測試；

*的幹法分散(sàn)系統：

　　LAP-D2000分散(sàn)系統在法國理論數據的基礎上進行了優化設計，使LAP-D2000對(duì)幹粉的分(fèn)散更加均勻，*的(de)負(fù)壓(yā)保證了進料的連續性及均勻性，有效避免測試過(guò)程中幹粉的相互粘連。

大量程幹(gàn)法激光粒度分析(xī)儀探測器：

　　LAP-D2000探測器采用了主探測器與副(fù)探測(cè)器相結合的全新設計，保證了儀器(qì)全(quán)量程内無縫探測，使測試更加準(zhǔn)确。主探測器設(shè)計了自(zì)動對中系統(tǒng)，可實現儀(yí)器的一鍵自動對中，彰顯人性(xìng)化設計。同時(shí)有效避免手動對(duì)中對探測器的損害，有效延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。

防塵、防震設計(jì)：

　　儀器整體進(jìn)行(háng)了密封設計，大幅提高了内部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效(xiào)避免外界震動對儀器的幹擾，使(shǐ)結果測試更穩定(dìng)可靠。

光路自動校對：

　　光路微變，儀器(qì)可以自行對光路進(jìn)行調節。

管(guǎn)道無殘留：

　　測試(shì)完成後管道内無殘留樣品，不會對下次測試(shì)造成幹擾。

計算機控制喂料：

　　測試人員可借助計(jì)算機控制儀器進料量。

主要技術參數：