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幹濕一體激光粒度(dù)儀(yí)

更新(xīn)時間:2023-10-18

簡要(yào)描述:

LAP-DW2000幹濕一體激光粒度儀廣泛應(yīng)用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、塗料、染料、顔(yá)料、填料、化工産(chǎn)品、催化劑、鑽(zuàn)井泥漿、磨料、潤滑劑、煤(méi)粉、泥砂(shā)、粉塵(chén)、細胞、細菌、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材(cái)料、燃料、墨汁、金屬(shǔ)與非金屬粉(fěn)末、碳(tàn)酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他(tā)粉狀物料(liào)粒度的測量。

LAP-DW2000幹濕一體激光粒度儀

首先感謝您對LAP-DW2000幹濕一體(tǐ)激光粒度儀的關注!

一、LAP-DW2000簡介:

LAP-DW2000是我公司傾力研發的新産(chǎn)品(pǐn),自上市以來赢得了廣(guǎng)大客戶的*好評,LAP-DW2000采用(yòng)*的Mie氏散射原理和彙聚光(guāng)傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法(fǎ),保證了測試結果的(de)準确性(xìng)和重複(fú)性。*的濕法循環分散(sàn)系統,保證顆粒保證測試過程中無顆粒沉積現象,測試完畢後無廢液積存設計,保證了下一次測試精度,使測試結(jié)果更真實(shí)可靠;幹法分散采用(yòng)力了直線噴射分散(sàn)設計,樣品經過(guò)高壓氣體(tǐ)分散後垂直向(xiàng)後方飛行,避免了待(dài)測小顆粒的二次團簇,同(tóng)時采取了管道(dào)無殘留設計,保證了測試不同樣品的(de)準(zhǔn)确性。*的光路自動(dòng)校對系(xì)統、幹濕一鍵切換系統、幹法電腦遠端控制喂料系統等精心設計彰顯出DW2000*優勢。

二、适用範圍:

     LAP-DW2000廣泛應用于水泥(ní)、陶瓷、藥品、乳液、塗(tú)料、染料、顔料、填料、化工産品、催化劑(jì)、鑽井泥漿、磨(mó)料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁(zhī)、金屬與非金屬粉末(mò)、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿(jiāng)及其他粉狀物料粒度的測量。

三、LAP-DW2000主要性能特點:

*的光(guāng)路(lù)設計:LAP-DW2000采用會聚光傅立葉(yè)變換測試技術,保證在較短的焦距獲得(dé)較大量程,有效提高儀器(qì)的(de)分辨能力;*的(de)高密度探測單元,讓DW2000擁有(yǒu)了*的小顆粒測試(shì)能力,高密度探測單元的使用讓(ràng)DW2000具有*的全量程(chéng)無縫測試能力。

幹、濕一鍵切換:幹濕切換将由儀器(qì)自動完(wán)成,全部過程10S内完(wán)成。

主探測器Z向自動移動:幹濕切換(huàn)後因光學玻璃的介入會導緻會聚(jù)光焦(jiāo)距變化,LAP-DW2000會根據(jù)幹(gàn)、濕法的不同自動調整主探(tàn)測器,使主探測(cè)器始終在焦平面上(實現光路三維自動校對)。

防塵、防震設計:儀器整體進行了密封設(shè)計,大幅提高了内部(bù)元器件使用壽命。*的懸浮(fú)式結構能有效避免外界震動對儀器(qì)的幹擾(rǎo),使測試結果更穩定可靠。

強防腐設(shè)計(jì)(選配(pèi)):根據客戶實際需(xū)求可以配備耐酸、耐堿、耐油(含一切溶劑油)、耐有機溶劑(jì)(像丙酮、苯酚、正己烷等(děng)一切有(yǒu)機溶劑)。

進口氦-氖(nǎi)激光器:LAP-DW2000采用了高穩定(dìng)、長壽命的進口氦-氖激光(guāng)器,優良的單色性及穩定性(xìng)讓DW2000擁有了*的測試重複(fú)性(标(biāo)配爲(wèi)國産)。

光路自動校對:自動(dòng)對焦系統,儀器可自動校對光路。

*微量循環系統:整個(gè)分(fèn)散循環系(xì)統進行了優化設計,分散介質大于150毫升即可循環測試,真正達到了微量循環測(cè)試;優化的設計保證(zhèng)排水後無廢液殘留,保證了下一次測試結果(guǒ)的準确性。

超寬量(liàng)程:LAP-DW2000量程達到了0.1μm2000μm

免(miǎn)排氣泡設計:全(quán)新的設計使整個測試過程不會有氣泡(pào)進入測試樣品窗,避免了氣泡幹(gàn)擾(rǎo)。

樣品無殘留設計:儀器管道及排水結構進行了優化設計,儀(yí)器管道、循環泵内無積液殘留,避免(miǎn)對下一次測試數據的影響;幹法測試同(tóng)樣進行了無殘留設計。

幹法計算機遠程控(kòng)制喂料:LAP-DW2000幹法測試時(shí)測試人員可通過電腦遠端控制喂料速度,大(dà)大(dà)減少了測試人(rén)員的(de)勞動強度。

樣品窗(chuāng)快換(huàn)裝置:全(quán)新設計的樣品窗快(kuài)換裝(zhuāng)置,使樣品窗更(gèng)換更方便快捷。

四、主要技術參數:

LAP-DW2000技術參(cān)數

規格型号(hào)

LAP-DW2000(高配)

執行标準

ISO   13320-1:1999GB/T19077.1-2008

測試範圍

幹法0.1μm -2000μm

濕法0.10.01)μm -2000μm

探測器通道數

86

96

準确性誤差

<±1%(國家标準樣(yàng)品D50值)

重複性誤差(chà)

<0.5%(國家标準樣品D50值)

免排氣泡

具(jù)備免排氣(qì)泡設計,無氣泡幹擾數據更準(zhǔn)确

誤操作保護

儀器(qì)具備誤操作自我保護功能,儀器對(duì)誤操作不響應(yīng)

激光器參數(shù)

進口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm,  p>10mW

測試速度

幹法<1分鍾/次(cì)

濕法<1分鍾(zhōng)/次(不含樣品分散時間)

濕法分(fèn)散方法

超聲

頻率:f=40KHz,功率:p=80W,時間:随意可(kě)調;具備超聲防幹燒

循環、攪拌

循環(huán)攪拌一體化設計,轉速:100-33950rpm轉速可調

循(xún)環流量

額定流量:0-10L/min可調   額(é)定功率:25W

樣品池

自行設計沸騰式樣品池,分散效果更好(hǎo),容量:190-600mL均可正常測試

幹法分散

幹燥(zào)壓縮空氣

軟件功能(néng)

分析模式

包括自由分布、R-R分布和對(duì)數正(zhèng)态分布、按目分(fèn)級統計模式等,滿(mǎn)足不同行業對被測樣品粒度統計方式的不同要求

統計(jì)方式

體積分布和數量分(fèn)布,以滿足不同行業對于粒度分布的不同統計方(fāng)式

統計比較(jiào)

可針對多條(tiáo)測試結果進行統(tǒng)計比較分析,可明(míng)顯對比不同批次樣品、加工前後樣品以及不同時間測試結(jié)果的差異(yì),對工業原料質量控制具有很強的實際(jì)意義

自行(háng)DIY顯示模闆

用戶自定義(yì)要顯示的數據,根(gēn)據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據粒徑區間求百分比,以滿足不同行業對粒(lì)度測試(shì)的表征方(fāng)式。徑距、*性、區間累積等等

測試報告

測試報(bào)告可導出WordExcel、圖片(Bmp)和文本(Text)等多種形式的文檔,滿(mǎn)足在任何場合下查看(kàn)測試報告以及科研文章中引用測(cè)試結果

多語言(yán)支持

中英(yīng)文語言界面支持,還可根據用戶要求嵌入(rù)其他語(yǔ)言(yán)界面。

智能操作模式

真正全自動無人幹預(yù)操作(zuò),無人爲因素(sù)幹擾,您隻需按提(tí)示加入待測樣(yàng)品即可,測試結果的(de)重(zhòng)複性更好。

操作模式

電腦操作、幹濕一鍵自動切換

測試速度

<1min/次(不含樣品分散時間)

體積(jī)

1170mm*460mm*470mm

重量

35Kg

     

 

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